在今年9月7日蓝V认证的官方微博@中兴通讯产品研发标准发布了一篇名为《锤子T1手机老化实验报告粗解》的文章，在按键寿命中T1报告结果为1.5万次，而国标和YD标准规定电源键和侧键为5万次；在挤压测试中结果为155N，而标准为250N。对此今天罗永浩针对这篇文章中的ALT（Accelerated Life Testing）加速老化测试的部分内容进行澄清。
附中兴《锤子T1手机老化实验报告粗解》的文章
在今年9月7日蓝V认证的官方微博@中兴通讯产品研发标准发布了一篇名为《锤子T1手机老化实验报告粗解》的文章，在按键寿命中T1报告结果为1.5万次，而国标和YD标准规定电源键和侧键为5万次；在挤压测试中结果为155N，而标准为250N。对此今天罗永浩针对这篇文章中的ALT（Accelerated Life Testing）加速老化测试的部分内容进行澄清。
附中兴《锤子T1手机老化实验报告粗解》的文章