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日评估机构称智能手机充电连接器受损有起火隐患
发布日期:2014-07-25 11:33:29  稿源:环球网科技

据日本《读卖新闻》7月25日报道,鉴于智能手机充电连接器相关的发热或起火事故接连不断,日本产品评估技术基盘机构(NITE)进行了再现实验。24日宣布结果表示,事故原因很可能是因为连接器被折弯而出现短路,建议人们不要继续使用已变形的充电连接器。

资料图

据NITE介绍,错误地把充电连接器接口插入智能手机插口或强加压力时,很容易导致充电连接器折弯。外表虽容易复原,但据NITE拍摄的X光照片显示内部仍为变形状态,若连上插座就会慢慢发热、冒烟。

另外接口内部有液体流入或有灰尘等异物时,金属接头部分也有可能短路造成发热起火等问题。

NITE在2009到2013年度共收到48起此类事故报告,有10人受伤。相关负责人表示,“很多人就寝时充电,有可能被子着火引起火灾”,呼吁对充电连接器的使用多加注意。

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