如果我们的科技产品不会随着时间增长最终腐烂，那样岂不是太美妙了？然而，汉阳大学的研究人员就宣布了一项新技术，可以减缓闪存卡的腐烂速度、提高性能和 增加智能手机电池寿命。这项技术被命名为WALDIO，直接简写为IO。这个想法全都围绕着用于存储的内部NAND闪存（“与非”一种闪存技术）来设计， 我们都知道，闪存的重写/擦除次数是有限的，使用周期和年限也是有限的。

不断写入最终导致损坏，也减慢了所有应用程序的读取和写入过程。此外，读取和写入对闪存卡是一个能量消耗的过程，所以优化这些类型的任务可能会增加智能手机电池寿命。

王永吉（音译）教授提到，这项技术如果能够投入使用，我们将能够使用到非常便宜，同时使用寿命高的闪存卡。

据研究者介绍，目前的主要问题是安卓IO（输入输出）堆栈内SQLite 的数据库管理系统和许多没必要写入的东西要存储，这样会使闪存卡的退化速度要比正常情况下快得多。研究者称想要删除掉昂贵的文件系统日志，同时又不会使文件受到损坏。

简单地说就是，WALDIO想要通过减少闪存卡需要记录的数据，来提高它的使用寿命。

WALDIO致力于优化SQLite IO数据库，使用分块预显示的方式来显示日志、头嵌入和组同步。你可以在其公开发表的PDF文件中阅读到更深一步的介绍。

在一项运用三星Galaxy S5进行的测试中，当进行大量操作的时候，在总的IO容量中有了一个显著的减少。降低到原来的1/6左右。这项测试还对默认的方法进行了高达4.6倍的快速命令表现情况进行了测试，以腾出更多的时间来做其它存储的工作。

这种形式对于我们使用者来说是有益的，我们的智能手机在某一个任务中可以操作高达20倍的速度，这样电池的寿命将会增长39%或者更多。也就是通过减少存储系统日志来减少读取时间，增加反应速度也就是存储速度，来达到减少电量消耗的目的。

但是问题是，我们现在还不知道WALDIO是否会把这项技术运用在目前的手机当中，也许因为利益的关系，研究者会把它投入到商业设备当中，赚取高额的利润，这样吾等小民将很难享受到这项科技的光辉。

目前，该团队将在今年的 Santa Clara 圣克拉拉（美国加利福尼亚州西部城市）Usenix操作系统年度大会上展示他们的研究成果，有兴趣的锋友可以关注一下。